Wybrane aspekty pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w zakresie nano i pikosekundowych rozdzielczości systemu
Zieliński Marek
ISBN: 83-231-1183-9
Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
Rok wydania: 2000
Nr wydania: I
Liczba stron: 116
Okładka: miękka
Nakład: dostępny
Ocena czytelników: zobacz opinie
Wydawnictwo Naukowe Uniwersytetu Mikołaja Kopernika
Rok wydania: 2000
Nr wydania: I
Liczba stron: 116
Okładka: miękka
Nakład: dostępny
Ocena czytelników: zobacz opinie
Spis treści
Niestacjonarne procesy stochastyczne o rozkładzie Poissona
Niestacjonarne procesy stochastyczne o rozkładzie Poissona
Systemy pomiaru funkcji intensywności procesów niestacjonarnych w technice nano i pikosekundowej (Systemy z bramką przesuwną * Systemy wielokanałowe *Systemy pomiarowe o rozdzielczości pikosekundowej)
Systemy pomiaru procesów o dużej dynamice zmian funkcji intensywności (Systemy o rozdzielczości nanosekundowej * Systemy o rozdzielczości pikosekundowej)
Główne źródła błędów w systemach pomiaru funkcji intensywności (Wpływ intensywności impulsów na proces zliczania * Wpływ intensywności impulsów zakłócających na proces
zliczania * Wpływ niestabilności generatora wzorcowego na pomiar funkcji intensywności)
Błędy bramkowanych systemów zliczania impulsów
Metody redukcji i ograniczania błędów
- Analiza matematyczna dla fizyków t. 1 ...
- Luminescencja mieszanych kryształów Zn_(1-x)Mg_(x) ...
Firszt Franciszek - Witelona Perspektywy Księga VIII, IX ...
Witelo - Wprowadzenie do metody reprezentacji indukowanych ...
Rynio Robert - Toruński poręcznik do fizyki. Gimnazjum I klasa: M ...
Rochowicz Krzysztof, Sadowska Magdalena, Karwasz Grzegorz





